涡流测厚仪|氧化膜测厚仪

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涂层测厚仪概述

tt230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

符合以下标准：

gb/t 4957-1985 涡流方法

jjg 818-93 《电涡流式测厚仪》

jb/t8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪功能特点

采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

具有两种测量方式：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）

具有两种工作方式：直接方式(direct)和成组方式(appl)

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据

设有五个统计量：平均值、Zui大值（max）、Zui小值（min）、测试次数（no．）、标准偏差

具有米、英制转换功能

具有打印功能，可打印测量值、统计值

具有欠压指示功能

操作过程有蜂鸣声提示

具有错误提示功能

具有自动关机功能

涂层测厚仪技术参数

测头类型：n

测量原理：电涡流

测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)

探头连接方式：一体化

示值误差：

一点校准(um)：±[3%h+1.5]

两点校准(um)：±[（1%~3%）h+1.5]

测量条件：

Zui小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10

基体Zui小面积的直径(mm)：ф5

Zui小临界厚度(mm)：0.3

温湿度：0~40℃ | 20%rh～90%rh

统计功能：平均值、Zui大值（max）、Zui小值（min）、测试次数（no．）、标准偏差

工作方式：直接方式(direct)和成组方式(appl)

测量方式：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）

上下限设置：无

存储能力：15个测量值

打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑

关机方式：自动

电源：二节3.6v镍镉电池

外形尺寸：150×55.5×23mm

重量：150g

涂层测厚仪基本配置

主机

铝基体

标准片一套|五片

充电器

使用说明书

涂层测厚仪可选附件

ta230打印机